機(jī)械破壞負(fù)荷試驗(yàn)檢測(cè)絕緣子的運(yùn)行特性

　　發(fā)現(xiàn)存在水平不同的機(jī)械強(qiáng)度下降問題。有的復(fù)合絕緣子芯棒在額定機(jī)械負(fù)荷下出現(xiàn)滑移，復(fù)合絕緣子運(yùn)行若干年后取下進(jìn)行機(jī)械強(qiáng)度試驗(yàn)。有的芯棒從端部金具中脫出，有的出現(xiàn)斷裂。分析其原因：一是由于端部連接的結(jié)構(gòu)和工藝存在問題;二是由于芯棒蠕變特性及材料老化問題。臨時(shí)的運(yùn)行中，由于受大氣環(huán)境、電場(chǎng)、機(jī)械力等因素的聯(lián)合作用，芯棒中的玻璃纖維會(huì)產(chǎn)生機(jī)械疲勞，環(huán)氧樹脂材料會(huì)老化，端部金具和芯棒連接配合亦會(huì)出現(xiàn)松動(dòng)，因此，生產(chǎn)單位應(yīng)在金屬端頭與芯棒的連接工藝上嚴(yán)格把好質(zhì)量關(guān)。同時(shí)對(duì)

　　于運(yùn)行中復(fù)合絕緣子機(jī)械強(qiáng)度應(yīng)采取定期監(jiān)測(cè)措施，結(jié)合運(yùn)行年限的長(zhǎng)短，比較機(jī)械強(qiáng)度的下降速率，防患于未然。另外，國(guó)內(nèi)外復(fù)合絕緣子運(yùn)行過程中已發(fā)生多起脆斷事故，脆斷通常發(fā)生在復(fù)合絕緣子導(dǎo)線端的金具連接處附近，發(fā)生脆斷的原因是由于水介質(zhì)中的酸臨時(shí)緩慢腐蝕芯棒截面造成的當(dāng)芯棒剩余截面無(wú)法接受外部機(jī)械負(fù)荷時(shí)則出現(xiàn)斷裂。要防止復(fù)合絕緣子運(yùn)行中脆斷一是要提高端頭密封質(zhì)量，防止出現(xiàn)縫隙;二是要防止硅橡膠護(hù)套出現(xiàn)局部缺陷和表面損傷;三是要改善端部電場(chǎng)的分布。事實(shí)上，凡是發(fā)生脆斷的復(fù)合絕緣子大多是制造過程中存在缺陷或在運(yùn)輸、裝置、運(yùn)行中護(hù)套材料受到損傷的絕緣子因此，投入運(yùn)行前應(yīng)對(duì)絕緣子進(jìn)行仔細(xì)檢查，將存有缺陷的絕緣子投入電網(wǎng)運(yùn)行前予以剔除。

　　隨著運(yùn)行時(shí)間的增長(zhǎng)， 機(jī)電破壞負(fù)荷試驗(yàn)是檢測(cè)絕緣子運(yùn)行特性的一項(xiàng)重要指標(biāo)。機(jī)電破壞負(fù)荷試驗(yàn)結(jié)果差的產(chǎn)品。其機(jī)械強(qiáng)度會(huì)呈現(xiàn)逐漸降低的趨勢(shì)。對(duì)在線路上運(yùn)行年限不同的高壓絕緣子進(jìn)行機(jī)電性能對(duì)比試驗(yàn)，發(fā)現(xiàn)局部瓷絕緣子運(yùn)行1525年后，試驗(yàn)值已低于出廠試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)值，不合格率隨運(yùn)行年限增加。而復(fù)合絕緣子穩(wěn)定性和分散性要好于瓷絕緣子對(duì)瓷和玻璃絕緣子進(jìn)行高頻振動(dòng)疲勞試驗(yàn)，試驗(yàn)結(jié)果標(biāo)明振后玻璃絕緣子機(jī)電強(qiáng)度變化不大，而振后絕緣子機(jī)電強(qiáng)度明顯下降。這一方面是因?yàn)閲?guó)產(chǎn)絕緣子廠家較多，由于材質(zhì)及制造工藝等方面的因素，造成產(chǎn)品質(zhì)量分散性大。另一方面，由于瓷質(zhì)繞結(jié)體是不均勻材料，臨時(shí)的運(yùn)行過程中，受各種機(jī)械沖擊力、振動(dòng)力的作用，可能對(duì)瓷體造成損失，導(dǎo)致機(jī)械性能下降。從目前國(guó)內(nèi)外絕緣子運(yùn)行記錄來看，國(guó)產(chǎn)絕緣子水平與國(guó)際水平尚存較大差距。

       更多信息請(qǐng)?jiān)L問：絕緣子http://www.m.zhihuofoshan.com 轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明，謝謝

　   天恒電力聲明：此資訊系轉(zhuǎn)載自電力網(wǎng)合作媒體或互聯(lián)網(wǎng)其它網(wǎng)站，天恒電力登載此文出于傳遞更多信息之目的，并不意味著贊同其觀點(diǎn)或證實(shí)其描述。文章內(nèi)容僅供參考。如因作品內(nèi)容、版權(quán)和其它問題請(qǐng)及時(shí)與本網(wǎng)聯(lián)系。