用等效鹽密度測量復(fù)合絕緣子的污染程度 土壤電導(dǎo)率 表面電導(dǎo)率 漏電流 污染閃光電壓和污染閃光梯度。在本文中，我們測量了復(fù)合絕緣子的等效鹽密度，以測量高壓絕緣子的污染程度，原因如下。

　　一個(gè)。污垢層的導(dǎo)電率定義為絕緣單元表面層的電導(dǎo)值，其實(shí)際上是通過將電流與施加到污垢層的電壓之比得到的電導(dǎo)值與形狀因子相乘得到的。絕緣子。為了測量污垢層的表面電導(dǎo)率，在污垢層飽和和潮濕的條件下，應(yīng)對復(fù)合絕緣子施加合適的高功率頻率電壓，并測量漏電流以獲得電導(dǎo)率G=I/U，但上面的測量更加分散。污染分布不均勻的影響也很大。另外，在測量時(shí)，需要使用大容量的電源，并且測量很麻煩。

　　灣從物理上講，土壤層的局部表面電導(dǎo)率和表面電導(dǎo)率是相同的參數(shù)，物理意義相同，區(qū)別僅在于測量方法。雖然測量方法與等效鹽相同，但電導(dǎo)率受溫度變化的影響很大。

　　C。漏電流測試作為表示污染程度的參數(shù)：*工作電壓下漏電流的大脈沖幅度;超過一定幅度的漏電流脈沖數(shù); *閃光前的大漏電流值。測量這些參數(shù)需要向高壓絕緣體施加一定的電壓，這對于現(xiàn)場測試是不方便的。

　　d。污染閃光電壓和污染閃光梯度是*直接*理想的污染參數(shù)，以表征絕緣子的性能。現(xiàn)場污染測試還可以準(zhǔn)確測量絕緣子的絕緣擊穿性能，但由于自然污染和結(jié)垢水平，達(dá)到臨界狀態(tài)和結(jié)垢水平。閃光的氣象條件不一定同時(shí)存在。通常污染已達(dá)到臨界水平，但沒有足夠的潮濕條件，并且沒有測量臨界閃絡(luò)電壓。因此，閃絡(luò)電壓的測量應(yīng)與其他污染參數(shù)的測量結(jié)合起來。測試設(shè)備容量大，測試不方便，現(xiàn)場沒有條件。

　　即使用等效鹽密度測試儀，使用一定量的蒸餾水測量高壓絕緣體等效鹽密度(外部絕緣的每單位表面積的等效鹽含量)以清潔瓷表面上的所有污垢。測量污染溶液的鹽密度ESDD。等效鹽密度可用于目測測量污染程度，與溫度 電壓 測試設(shè)備容量和測試現(xiàn)場限制無關(guān)。

　　鑒于現(xiàn)有技術(shù) 設(shè)備和操作的可行性，該領(lǐng)域通常通過測量絕緣體的等效鹽密度來測量絕緣體的污染程度。等效鹽密度是絕緣體閃爍的客觀反映。這是判斷絕緣性能的標(biāo)準(zhǔn)之一。它可以直接測量污染程度，并且不受溫度 電壓 測試設(shè)備容量和測試現(xiàn)場的限制，并且便于現(xiàn)場操作。

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