高壓絕緣子污穢度參數(shù)之間的關(guān)系

　　在高壓絕緣子的污閃機(jī)理分析中，是用污層表面電導(dǎo)率來表示污穢度的，這說明污層袁面電導(dǎo)率和污閃電壓有著本質(zhì)上的聯(lián)系，可通過污層表面電導(dǎo)率建立起多種污穢度參數(shù)的內(nèi)在聯(lián)系。

　　(1)局部表面電導(dǎo)率)，和整體表面電導(dǎo)率仃之間的關(guān)系由于高壓絕緣子金屬附件和瓷件之間有空氣間隙，造成污層間斷，此因素造成整體表面電導(dǎo)率口的實(shí)際測量值偏小，且有很大的分散性。若能完全消除污層間斷等因素的影響，則口值將和Y值相等。

　　(2)局部表面電導(dǎo)率)，和運(yùn)行電壓下的*大泄漏電流Ih之間的關(guān)系通過理論推導(dǎo)，可得到y(tǒng)和運(yùn)行電壓下的*大泄漏電流/ n之間的關(guān)系2 L(7-35)y一凳各In—乃工。/懸式高壓絕緣子中，U代表運(yùn)行電壓;/代表高壓絕緣子的泄漏距離。

　　(3)局部表面電導(dǎo)率y和等值附鹽密度S。之間的關(guān)系通過大量的人工污穢試驗(yàn)，統(tǒng)計(jì)得出兩者的關(guān)系為y - lOOOSd (7-36)

　　該試驗(yàn)是對人工污穢試品進(jìn)行局部表面電導(dǎo)率測量獲得的統(tǒng)計(jì)結(jié)果。在對等值鹽密的討論中提到，人工污穢試驗(yàn)的污穢度參數(shù)——鹽密和污閃電壓的相關(guān)性好，自然污穢高壓絕緣子的污穢度參數(shù)——鹽密和污閃電壓的相關(guān)性不好;兩種鹽密不是一個(gè)概念，主要差別在于污物中可溶鹽的構(gòu)成不同。人工污穢污物中的可溶鹽成分是NaCl，自然污穢中可溶鹽成分復(fù)雜，可能主要成分是難溶于水的二價(jià)鹽，如果能將自然污穢的鹽密折算成人工污穢的鹽密，或稱作有效鹽密，就可以和污閃電壓建立起直接的聯(lián)系。一種可能的方法是對自然污穢進(jìn)行化學(xué)成分分析，根據(jù)一價(jià)鹽和二價(jià)鹽的比例進(jìn)行折算，但此方法的花費(fèi)太大，操作困難。式(7-35)給出了另外一種解決問題的思路，只要實(shí)測出自然污穢試品的局部表面電導(dǎo)率y，根據(jù)式(7-36)就可將實(shí)測出的)，值換算成Sd，按此方式得到的Sa避免了大水量溶解污物的測量方法造成的缺陷，代表了試品真實(shí)的污穢程度。

　　沖擊電壓作用下高壓絕緣子的污閃機(jī)理

　　污穢高壓絕緣子在雷電或操作沖擊電壓作用下的絕緣強(qiáng)度，與清潔高壓絕緣子相比，也有相當(dāng)程度的降低。因而，在雷電或操作沖擊電壓作用下，也有污閃的問題。在通常情況下，發(fā)生的污閃事故主要是指在運(yùn)行電壓下發(fā)生的閃絡(luò)事故，在由雷電過電壓和操作過電壓造成的閃絡(luò)事故中又很少有造成污閃的氣象條件，因而往往忽略了污穢這個(gè)影響因素。對于潮濕臟污條件下高壓絕緣子沖擊電壓強(qiáng)度降低的機(jī)理，目前尚無一致的看法與結(jié)論。

　　試驗(yàn)結(jié)果表明了污穢潮濕條件下，操作沖擊電壓的絕緣強(qiáng)度比清潔受潮狀態(tài)下為低。采用不同的試驗(yàn)方法獲得的試驗(yàn)結(jié)果差別很大，例如，有的試驗(yàn)結(jié)果表明，濕污狀態(tài)對雷電沖擊電壓有影響，有的試驗(yàn)結(jié)果則無影響。幾個(gè)有代表性的試驗(yàn)結(jié)果簡述如下。

　　1.沖擊電壓下的污閃電壓隨污穢程度的增加而降低，下降的幅度則與高壓絕緣子型式及污穢程度有關(guān)。

　　污穢分布狀況對沖擊電壓下的絕緣強(qiáng)度也有影響，不均勻污穢分布比均勻污穢的絕緣強(qiáng)度還要低些，在同樣受潮及臟污條件下可能低17%左右。此時(shí)，污穢高壓絕緣子的操作沖擊閃絡(luò)電壓值約為交流污穢電壓峰值的2倍左右。

　　也有的試驗(yàn)表明，在中等程度的污穢條件下，高壓絕緣子的操作沖擊耐受強(qiáng)度將高于清潔潮濕耐受值，即使在重污穢下也僅造成很少下降或不下降。這種特性被認(rèn)為是由于操作沖擊電壓的作用時(shí)間不足以在高壓絕緣子表明上形成干燥帶，或者濕污層多少改善了沿高壓絕緣子串的電壓分布。

　　2.試驗(yàn)時(shí)有無預(yù)加交流電壓對沖擊電壓下的絕緣強(qiáng)度有顯著的影響。

　　在污穢高壓絕緣子上僅施加沖擊電壓，并不反映高壓絕緣子的實(shí)際運(yùn)行情況。實(shí)際運(yùn)行情況是，除某些特殊情況外，污穢高壓絕緣子在長期工作電壓下，由于泄漏電流的熱效應(yīng)，在高壓絕緣子表面已形成干區(qū)，這和沒有工作電壓長期作用的高壓絕緣子表面狀態(tài)不一樣，此時(shí)再施加沖擊電壓，高壓絕緣子的閃絡(luò)過程有很大不同。因此，對污穢高壓絕緣子來說，應(yīng)在長時(shí)間工作電壓作用的基礎(chǔ)上再疊加沖擊電壓來試驗(yàn)才比較符合實(shí)際情況。

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